Energy dissipation in multifrequency atomic force microscopy

  • Valentina Pukhova
  • , Francesco Banfi
  • , Gabriele Ferrini*
  • *Autore corrispondente per questo lavoro

Risultato della ricerca: Contributo in rivistaArticolopeer review

10 Citazioni (Scopus)

Abstract

The instantaneous displacement, velocity and acceleration of a cantilever tip impacting onto a graphite surface are reconstructed. The total dissipated energy and the dissipated energy per cycle of each excited flexural mode during the tip interaction is retrieved. The tip dynamics evolution is studied by wavelet analysis techniques that have general relevance for multi-mode atomic force microscopy, in a regime where few cantilever oscillation cycles characterize the tip–sample interaction.
Lingua originaleInglese
pagine (da-a)494-500
Numero di pagine7
RivistaBeilstein Journal of Nanotechnology
Volume5
Numero di pubblicazioneAprile
DOI
Stato di pubblicazionePubblicato - 2014

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • Scienza dei Materiali Generale
  • Fisica e Astronomia Generali
  • Ingegneria Elettrica ed Elettronica

Keywords

  • band excitation
  • multifrequency atomic force microscopy (AFM)
  • phase reference
  • wavelet transforms

Fingerprint

Entra nei temi di ricerca di 'Energy dissipation in multifrequency atomic force microscopy'. Insieme formano una fingerprint unica.

Cita questo